xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀代理

德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

應用實例：

XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如良好或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。

電鍍液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

防腐保護性鍍層: Zn/Fe

主要特征

  ? 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。
 ? *工作條件:50KV,50W
 ? X射線探測器采用比例接收器
 ? 準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
 ? 基本濾片：固定或3個自動切換
 ? 測量距離可在0-80 mm范圍內調整
 ? 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
 ? 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
 ? 刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。
 ? 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節

典型應用領域

 ? 大批量電鍍件測量
 ? 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
 ? 電鍍行業槽液分析
 ? 線路板行業如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
 ? 測量接插件和觸點的鍍層
 ? 電子和半導體行業的功能性鍍層測量
 ? 黃金，珠寶和手表行業

主要技術參數：