三坐標(biāo)探頭 雷尼紹tp200價(jià)格

TP200:具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測(cè)頭

特性與優(yōu)點(diǎn) 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測(cè)量 零復(fù)位誤差 無(wú)各向同性影響 六向測(cè)量能力 測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm（GF測(cè)針） 快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖 壽命 >1000萬(wàn)次觸發(fā)

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè)，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。

觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量離散的點(diǎn)，是檢測(cè)三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè)，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。

TP200 / TP200B測(cè)頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。

請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。

附件：

TP200測(cè)針模塊

測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上，具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過(guò)行程保護(hù)功能。

有三種測(cè)針模塊可供選擇，具有兩種不同的過(guò)行程測(cè)力。