菲希爾X射線測厚儀XDL210測量原理：運用 X 射線熒光光譜法，通過測量樣品受 X 射線激發后產生的熒光 X 射線，實現對鍍層厚度的精準測量和成分分析，采用無損檢測方式，可保障樣品完整性。

應用領域：適用于電鍍量產零件、裝飾性鍍鉻等薄涂層、電子和半導體行業功能涂層的測量，也可對印刷電路板進行自動測量，還能用于電鍍溶液分析，在質量保證、進料檢驗和過程控制中發揮重要作用。

技術參數

X 射線源：帶鈹窗口的鎢管，有 30kV、40kV、50kV 三檔高壓可調整。

準直器：標配孔徑為 ?0.3mm 的圓形準直器，可選圓形 ?0.1mm、?0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 的準直器。

測量點：取決于測量距離及準直器大小，最小測量點大小約 ?0.16mm。

測量距離：使用測量距離補償法（DCM）功能時，未校準范圍為 0-80mm，已校準范圍為 0-20mm。

X 射線探測器：采用比例接收器，可實現高計數率，確保信號穩定接收，從而進行高精度測量。

樣品臺：為固定式平面樣品平臺，可用樣品放置區域為 463x500mm，樣品重量 20kg，高度根據不同情況為 155/90/25mm。

攝像頭：高分辨率 CCD 彩色攝像頭，放大倍數 20x-180x，有手動聚焦、十字線刻度和可調節亮度的照明，激光點用于準確定位樣品。