1、對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。

　　2、檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。

　　3、不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

　　4、不應在試件的彎曲表面上測量。

　　5、通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。

　　6、測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。

　　鍍層測厚儀測量精度受到影響的因素有什么？

　　1.磁場：

　　周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　2.附著物質：

　　測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　3.探頭的取向：

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

　　4.曲率：

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。

　　5.試件的變形：

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測出可靠的數據。

　　6.探頭壓力：

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。