1.標準校準：建議在平坦的表面上進行測量，并且如果測量對象的材料，尺寸和曲率與ElektroPhysik零板相同，則建議進行校準。
2.單點校準（不使用校準箔進行歸零）：如果允許的測量誤差大為±（讀數的3％*加上探頭的恒定誤差），則建議使用。 （探頭恒定誤差示例：F.1.6：1μm）。。
3.兩點校準（使用校準箔進行歸零和校準）：如果預期讀數將接近校準值，并且允許的探頭誤差大為±（1％... 3％of讀數*（根據探頭）加上恒定的探頭誤差）
*請參考實驗室條件下提供的校準標準。
4.兩點校準（使用一組兩個校準箔）：
a）建議用于粗糙表面的測量。
b）如果期望的厚度在兩個校準箔片之間，建議在光滑表面上進行準確測量。
5.通過涂層（CTC）進行校準：使用校準箔進行校準。如果測試樣品已涂覆且沒有未涂覆的樣品可用于比較，則建議使用。此方法適用于以下探頭：F05，F1.6，F3和FN1.6（僅含鐵零件），F1.6 / 90，F2 / 90，F10，F20和F50。
請注意：
在本手冊中，“校準箔”一詞適用于所有校準標準，包括通常不被描述為“箔”的那些：厚度分別為2mm，5mm和10m的那些。

校準是進行準確測量的*重要要求。 校準樣品與產品樣品的距離越近，校準和讀數的準確性就越高。 例如，如果要在直徑為6 mm的ST37（低碳鋼）鋼制圓柱體上測量產品，則未涂覆樣品的校準必須在具有相同直徑的類似質量的鋼制圓柱體上進行。
校準樣品必須通過以下方式與產品樣品相對應：
·曲率半徑
·基材材料性能
·基材厚度
·測量區域的大小
·校準點
注意：校準樣品必須始終與產品本身的測量點相同，尤其是在小零件的角和邊緣的情況下。